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AURIX™ マイクロコントローラ: JTAG と DAP を使用したバウンダリスキャン – KBA235876

AURIX™ マイクロコントローラ: JTAG と DAP を使用したバウンダリスキャン – KBA235876

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Original KBA: AURIX™ MCU: Boundary scan using JTAG and DAP – KBA235876

Version: **

バウンダリスキャンは、Joint Test Action Group(JTAG)またはDevice Access Port(DAP)インターフェイスを介してAURIX™デバイスで可能です。

バウンダリスキャンは、IEEE1149.1標準に準拠しています。

IOPATHを00に設定する必要があることに注意してください。

これにより、デバッグモジュールのIOClientが0に設定されます。

これは、ツールがバウンダリスキャンを実行しており、デバッグを行っていないことを示しているため、あるモードから別のモードへの誤った変更を回避できます。

注:このKBAは、次の一連のAURIX™MCUに適用されます。

AURIX™TC2xxシリーズ
AURIX™TC3xxシリーズ

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