十一月 26, 2021
06:29 PM
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十一月 28, 2021
07:20 PM
Hi ambition,
首先开关损耗值一般参考DPT(Double pulse test)
Datasheet中Eon,Eoff也是通过DPT测试得到。关于DPT请参考附件中的文件。这个测试用来测得最坏情况下的开关损耗。
关于你提出的公式,非常详尽的计算过程我建议参考这本书GaN Transistors for Efficient Power第三版的第138页到147页,应该会有所启发。
实际工程应用中也一般选用最坏情况下的开关损耗值,来避免后续设计中的问题。
祝好,
Steven
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十一月 28, 2021
07:20 PM