IMZ120R060M1H_信頼性試験について

[SoU_4942226]

IMZ120R060M1H( TO-247-4ピン)の信頼性試験について教えてください。

SiC MOSFETもSi MOSFETと同様に信頼性試験を実施していると思いますがどの項目をどのような条件で実施しておりますでしょうか？

また、TO-247-4ピンですので通電する試験においてケルビンソース端子含めて電気的な接続方法に関してもご教示いただけますと幸いです。

以上です、よろしくお願いいたします。

[Takashi_O]

@SoU_4942226 様、

弊社技術フォーラムにお問い合わせいただきありがとうございます。

確認いたしますので少々お時間いただけますでしょうか。
最終的な開示内容に関しまして、試験規格とその結果のみの開示になる可能性が高いです。
信頼性試験のセットアップ並びに試験内容の詳細に関しましては、各規格の指定内容に従うことになりますが、この内容は弊社から開示できるものでないことが背景となります。

何卒、よろしくお願いいたします。

[SoU_4942226]

規格と結果のみになる可能性が高いとのことで承知しました。
TO-247-4ピンであることもあり試験方法や接続方法もご教示いただきたく考えております。

恐れ入りますがご確認のほどよろしくお願いいたします。

[Takashi_O · Accepted solution]

@SoU_4942226 様、

本件、折り返しのご連絡が遅くなり申し訳ございません。

電気的な接続に関しまして、Sense sourceピンにつきましてはフローティングの状態にて試験を行われることを推奨いたします。 Sense sourceピンでは大電流を扱うことができませんのでメインのパワーループに接続されるべきではないことが上記推奨の背景となります。

その他詳細な試験条件に関しましては、JEDEC当該規格の指示書をご参照いただければ幸いでございます。

何卒、よろしくお願いいたします。