Cypress S29GL512Tのシングルアップセット・クロスセクションとシングルイベントラッチアップの発生率について - KBA228164 - Community Translated (JA)
Employee
7 05, 2020
11:12 PM
- RSS フィードを購読する
- 新着としてマーク
- 既読としてマーク
- ブックマーク
- 購読
- 印刷用ページ
- 不適切なコンテンツを報告
7 05, 2020
11:12 PM
Community Translated by KaKi_1384211 Version: **
Translation - English: Single Event Upset Cross-Section and Single Event Latchup Rate for S29GL512T – KBA228164
Cypress S29GL512TのNOR Flash Memoryはソフトエラーの影響を受けません。ECCを使用することにより、不具合は見られません。
また、テスト結果から低い発生確率のシングルイベントラッチアップが観察されました。FITレートは <2.83 FIT/deviceです。
シングルイベントラッチアップのテスト結果
製品シリーズ | 平均SEL FITレート[FIT/Dev] | 温度、電圧条件 | CypressターゲットFITレート [FIT/Dev] | 結果 |
GL512T NOR Flash | <2.83 | 105C, 3.6V | 10 | PASSED |
この記事を評価: