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Original KBA: AURIX™ MCU: Pflash ECC errors are reported on high temperature – KBA234901
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質問： 常温/低温テストで問題ないのに、何故、多くのPflash ECCエラーが、高温で報告されていますか？
回答：
高温テストでPflash ECCエラーを避けるためには、Pflashの待機状態と実行速度が、アクセス遅延をカバーするのに十分である事を確認してください。
待機状態は、PMU_FCONレジスタ（TC2xxの場合）およびDMU_HF_PWAIT（TC3xxの場合）で決定されます。PFlashの実行速度は、PMU_CCUCONxレジスタ（TC2xxの場合）およびSCU_CCUCONx（TC3xxの場合）で決定されます。
詳細は、ユーザーズマニュアルのTC2xxシリーズの「プログラムメモリユニット（PMU）」の章、およびTC3xxシリーズの「データメモリユニット（DMU）およびシステムコントロールユニット（SCU）」の章を参照してください。
注：このKBAは、AURIX™ MCUの以下のシリーズに適用されます：
- AURIX™ TC2xx series
- AURIX™ TC3xx series
