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AURIX™ MCU: メモリ ビルト-イン-セルフ-テスト (MBIST) – KBA235662

AURIX™ MCU: メモリ ビルト-イン-セルフ-テスト (MBIST) – KBA235662

BinduPriya_G
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AURIX™ MCU: メモリ ビルト-イン-セルフ-テスト (MBIST) – KBA235662

Community translation: AURIX™ MCU: Memory Built-In-Self-Test (MBIST) – KBA235662

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質問:

MBISTは何ですか?

回答:

MBISTは、内部SRAMインスタンスの整合性の検証を実装するハードウェアメカニズムです。メモリテストユニット(MTU)はMBISTを制御します。

質問:

ユーザーは何故MBISTを実行する必要がありますか?

回答:

自動車産業では、電子部品の安全性および信頼性に関して高い基準が設定されています。例えば、SRAMのメモリセルの故障は、ISO 26262で潜在的故障としてみなされます。これらの高い基準を満たすためには、メモリセルおよびアクセスロジックの整合性を検証することは、最先端の手法です。

質問:

どのようにしてMBISTは動作しますか?

回答:

AURIX™ MCUプラットフォームの各SRAMは、内部メモリのMBISTなどを制御するデジタルハードウェアブロックに囲まれています。AURIX™ MCU第2世代では、ハードウェアブロックはSRAMサポートハードウェア(SSH)と呼ばれています。MTUは、このハードウェアブロックの各内部インスタンスの動作と機能を制御するための統一されたレジスタインターフェースを提供します。MTUは、システムの各々のSRAMブロックに対して、色々な構成可能なテストタイプを制御します。さらに、MTUはシステムの各SRAMブロックのハードウェアを初期化するために使用されます。

質問:

MBISTの最後に何をしますか?

回答:

MBISTが完了すると、対応するメモリテスト完了ステータスレジスタにビットが設定されます。1つ以上のエラーが、対応するメモリECC検出レジスタで設定された場合、ユーザーズマニュアルで指示されているように、他のMTUレジスタを確認することによって解析を完了する必要があります。テストに失敗に対する適切な対応は、アプリケーションの種類、SRAMの種類、エラーの深刻度など、いくつかの要因に依存します。それは、常にお客様の選択です。

質問:

いつMBISTを実行しますか?

回答:

ISO 26262では、潜在的故障は少なくとも運転サイクルの度に1回カバーされる必要があるという事を規定しています。MBIST実行(スタートアップ、ランタイム、シャットダウン)の間にユーザーにとって選択が自由であるとしても、アプリケーションソフトウェアがSRAMを使用して開始する前の起動の間にMBISTを実行することを推奨します。以下の前提条件を考慮してください:

 

  • テストを開始する前: 正しいECCデータを使用したSRAMの初期化。
  • テスト中: SRAMはアクセスできません。

詳細は、ユーザーズマニュアルの「メモリテストユニット(MTU)」の章を参照してください。

 

注: このKBAAURIX™ MCUの以下のシリーズに適用されます:

  • AURIX™ TC2xx series
  • AURIX™ TC3xx series
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