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AURIX™ MCU: モジュールのデバッグとトレース - KBA235620

AURIX™ MCU: モジュールのデバッグとトレース - KBA235620

Infineon_Team
Employee
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Translated by: NXTY_Mori

Original KBA: AURIX™ MCU: Debugging and tracing modules - KBA235620

Version: **

AURIX™ マイクロコントローラでは、次のモジュールがトラブルシューティングやアプリケーション コードの効率向上に役立ちます。

・オンチップ デバッグ システム (OCDS) - これは、本稼働デバイスとエミュレーション デバイスの両方で使用できます。 これは、ブレークポイントが使用され、ウォッチドッグが一時停止されるデバッグの侵入的な方法です。 したがって、アプリケーションの時間動作が影響を受けます。 この方法は、OCDS を有効にした後に確実に再現できない可能性がある、時間依存のバグには適していません。
・マルチコア デバッグ ソリューション (MCDS) - これにより、ユーザーは、命令のトレース、コンパクトな関数、またはデータ ロギングによって、非侵入的な方法でシステムを分析できます。 本格的な MCDS モジュールは、エミュレーション デバイスでのみ使用できます。 生産的なデバイスには、MCDSLight および MiniMCDS と呼ばれる小さな MCDS オプションがあります。

注: この KBA は、次の一連の AURIX™ MCU に適用されます。

・AURIX™ TC2xx シリーズ
・AURIX™ TC3xx シリーズ

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