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Viso test of IGBT modules (KA-00565)

NXTY_Yoshimura
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Hi,Communites,

 I want to translate the following KA-00565 into Japanese

https://community.infineon.com/t5/Knowledge-Base-Articles/Viso-test-of-IGBT-modules-KA-00565/ta-p/33...

BR

Taro Yoshimura

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NXTY_Yoshimura
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IGBTモジュールの絶縁耐圧試験VisoKA-00565

Viso試験は、IEC規格(IEC60747-9)に従って、すべてのIGBTモジュールの100%出荷試験テストで実施されます。最終テストについては同封の情報をご覧ください。

Viso試験を実施するためにはすべての端子を接続します。

印加されるViso電圧は、デバイスのベースプレートと接続された端子の間の絶縁能力を試験します。この試験は合格・不合格の判定です。

この試験を繰り返すことによって当社のIGBTモジュールの寿命が短くなることはないと考えています。

データシートに記載されているVisoの仕様は絶対最大定格であり、この仕様を超えることは許されません。

したがって、IGBTモジュールのViso繰り返し試験では、トラクション規格に従ってVisoの印加電圧を80%まで下げることを推奨します。

Visoを低減することで試験中に最大値を超えないよう安全マージンを確保することができます。

 

 

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BinduPriya_G
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Hi Taro Yoshimura san

Confirm to work on this KBA.

Thanks,
Bindu.

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NXTY_Yoshimura
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IGBTモジュールの絶縁耐圧試験VisoKA-00565

Viso試験は、IEC規格(IEC60747-9)に従って、すべてのIGBTモジュールの100%出荷試験テストで実施されます。最終テストについては同封の情報をご覧ください。

Viso試験を実施するためにはすべての端子を接続します。

印加されるViso電圧は、デバイスのベースプレートと接続された端子の間の絶縁能力を試験します。この試験は合格・不合格の判定です。

この試験を繰り返すことによって当社のIGBTモジュールの寿命が短くなることはないと考えています。

データシートに記載されているVisoの仕様は絶対最大定格であり、この仕様を超えることは許されません。

したがって、IGBTモジュールのViso繰り返し試験では、トラクション規格に従ってVisoの印加電圧を80%まで下げることを推奨します。

Visoを低減することで試験中に最大値を超えないよう安全マージンを確保することができます。

 

 

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BinduPriya_G
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Hi Taro Yoshimura san

Confirm to receive this KBA.

Thank you for your contribution.

Thanks,
Bindu.

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