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Community Translation - Single Event Upset Cross-Section and Single Event Latchup Rate for S29GL512T - KBA228164

KaKi_1384211
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100 replies posted 50 replies posted 50 questions asked

Hi Jenna-san,

I want to translate KBA228164, please confirm to my work.

Thanks and regards,

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JennaJo
Moderator
Moderator
Moderator
1000 replies posted 750 replies posted 500 replies posted

Hello,

I will confirm to work this KBA.

Please work to do.

Thanks,

Jenna

Jenna Jo
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Hi Jenna-san,

I have translated KBA228164.

_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/

【タイトル】

Cypress S29GL512Tのシングルアップセット・クロスセクションとシングルイベントラッチアップの発生率について - KBA228164

【内容】

Cypress S29GL512TNOR Flash Memoryはソフトエラーの影響を受けません。内蔵ECCを使用することにより、不具合は発生していません。

また、テスト結果から低い発生確率のシングルイベントラッチアップが観察されました。FITレートは <2.83 FIT/deviceです。

シングルイベントラッチアップのテスト結果

Mode

製品シリーズ

Average SEL FIT Rate [FIT/Dev]

平均SEL FITレート[FIT/Dev]

VT - Condition

温度、電圧

CY Specs Target FIT Rate [FIT/Dev]

CypressターゲットFITレート

[FIT/Dev]

Remark

結果

GL512T NOR Flash

<2.83

105C, 3.6V

10

PASSED

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