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Community Translation - ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469

Kenshow
Level 8
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Hi,               

I would like to translate KBA225469 into Japanese.

Please confirm to my work.

Thanks,

Kenshow

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JennaJo
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Moderator
Moderator
1000 replies posted 750 replies posted 500 replies posted

Hi, Kenshow-san

Confirm to work this KBA.

Thanks

Jenna

Jenna Jo
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Hi Jenna-san,

                              

Japanese translation was over.
Please check below.

Original KBA:

ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469

Thanks.

Kenshow

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タイトル: Traveo MCUのECCインジェクションテスト - KBA225469

バージョン:**

このガイドでは、Traveo MCUのエラー修正コード(ECC)インジェクションテストについて説明します。

Traveo MCUには、シングルビットエラーの検出と修正、または2ビットエラーの検出に役立つ組み込みのECCロジックがあります。この組み込みのECCロジックは、TCRAMTCFLASHVRAM、ワークフラッシュ、IRCベクトルアドレスRAMCAN FD RAMSYSRAMなどのTraveo MCUの多くの周辺メモリ内で使用できます。

Traveo MCUは、データ破損をシミュレートし、ECCロジックがこれらのエラーを検出または修正できるかどうかをチェックできる必要なハードウェアとテストレジスタ(インジェクションレジスタと呼ばれる)も提供します。これらのテストは、製品設計に関連する機能安全モジュールの一部として実行できます。

このガイドでは、これらのインジェクションレジスタの詳細と、それらを使用してエラーをシミュレートする方法に焦点を当てています。このガイドには、周辺メモリ内で使用可能なECC機能をテストするために使用できるサンプルコードフラグメントも含まれています。

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19-June-2020

Kenshow

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