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AURIX™ MCU: Boundary scan using JTAG and DAP – KBA235876

NXTY_Sakano
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Hi ,

I want to translate the following KBA235876 into Japanese, please confirm to my work.

URL:https://community.infineon.com/t5/Knowledge-Base-Articles/AURIX-MCU-Boundary-scan-using-JTAG-and-DAP...

Thanks, Katsutoshi Sakano

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NXTY_Sakano
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バウンダリスキャンは、Joint Test Action Group(JTAG)またはDevice Access Port(DAP)インターフェイスを介してAURIX™デバイスで可能です。

バウンダリスキャンは、IEEE1149.1標準に準拠しています。

IOPATHを00に設定する必要があることに注意してください。

これにより、デバッグモジュールのIOClientが0に設定されます。

これは、ツールがバウンダリスキャンを実行しており、デバッグを行っていないことを示しているため、あるモードから別のモードへの誤った変更を回避できます。

注:このKBAは、次の一連のAURIX™MCUに適用されます。

AURIX™TC2xxシリーズ

AURIX™TC3xxシリーズ

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BinduPriya_G
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Hi Katsutoshi Sakano san,

Confirm to work on this KBA.

Thanks,
Bindu

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NXTY_Sakano
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バウンダリスキャンは、Joint Test Action Group(JTAG)またはDevice Access Port(DAP)インターフェイスを介してAURIX™デバイスで可能です。

バウンダリスキャンは、IEEE1149.1標準に準拠しています。

IOPATHを00に設定する必要があることに注意してください。

これにより、デバッグモジュールのIOClientが0に設定されます。

これは、ツールがバウンダリスキャンを実行しており、デバッグを行っていないことを示しているため、あるモードから別のモードへの誤った変更を回避できます。

注:このKBAは、次の一連のAURIX™MCUに適用されます。

AURIX™TC2xxシリーズ

AURIX™TC3xxシリーズ

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BinduPriya_G
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Hi  Katsutoshi Sakano san

Confirmed to receive this KBA.

Thank you for your contribution.

Thanks,
Bindu

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