AURIX™ MCU: Boundary scan using JTAG and DAP – KBA235876

[NXTY_Sakano]

Hi ,

I want to translate the following KBA235876 into Japanese, please confirm to my work.

URL:https://community.infineon.com/t5/Knowledge-Base-Articles/AURIX-MCU-Boundary-scan-using-JTAG-and-DAP...

Thanks, Katsutoshi Sakano

[IFX_Publisher2]

Hi Katsutoshi Sakano san,

Confirm to work on this KBA.

Thanks,
Bindu

[NXTY_Sakano · Accepted solution]

バウンダリスキャンは、Joint Test Action Group（JTAG）またはDevice Access Port（DAP）インターフェイスを介してAURIX™デバイスで可能です。

バウンダリスキャンは、IEEE1149.1標準に準拠しています。

IOPATHを00に設定する必要があることに注意してください。

これにより、デバッグモジュールのIOClientが0に設定されます。

これは、ツールがバウンダリスキャンを実行しており、デバッグを行っていないことを示しているため、あるモードから別のモードへの誤った変更を回避できます。

注：このKBAは、次の一連のAURIX™MCUに適用されます。

AURIX™TC2xxシリーズ

AURIX™TC3xxシリーズ

[IFX_Publisher2]

Hi  Katsutoshi Sakano san

Confirmed to receive this KBA.

Thank you for your contribution.

Thanks,
Bindu